-
About Us
-
Functional Module
-
Service and Support
Key Measures for Particle Control in Wet Cleaning Equipment — Maintenance and Monitoring
Category:
Process Technology
Author:
Source:
Release time:
2025-08-29
Visits:
在半导体制造的湿法清洗工艺中，有效控制颗粒污染是确保晶圆良率和器件性能的核心挑战。颗粒会导致器件短路、开路或性能劣化。实现低颗粒度需要从源头预防、清洗过程优化等多维度采取系统性措施。
维护与监控：确保持续性能与快速响应
1.预防性维护计划：
按工艺负载、时间或监测结果定期更换槽内化学液。
定期排空设备，使用专用清洗液（热UPW、稀酸/碱、清洗剂）循环彻底清洗槽体、喷淋臂、管路、过滤器外壳等，去除累积物，并充分漂洗。
严格依据压差、运行时间或颗粒数据更换各级过滤器。
定期检查泵、阀门、密封件、喷嘴、花篮等易损件，及时更换磨损或性能下降部件。
定期校准温度、流量、液位等关键传感器。
2.全方位颗粒监控：
在线实时监测： 在UPW入口、化学液入口、漂洗水出口等关键点安装在线颗粒计数器，实时监控液体颗粒浓度/尺寸并设置报警。
离线液体分析： 定期从工艺槽、漂洗槽、过滤器后取样，使用离线颗粒计数器分析颗粒水平。
晶圆表面检测： 定期使用表面颗粒检测设备测量清洗后测试片或生产片上的颗粒数量和尺寸分布，这是最直接的评价手段。
水质间接监测： 实时监测漂洗水的电阻率和TOC，间接反映清洗效果和污染物残留。
设备状态监控： 监控泵振动、流量、压力、温度等运行参数，异常可能预示部件磨损产生颗粒。
3.数据驱动决策：
建立完善数据库记录所有维护活动、颗粒监测数据、工艺参数和设备状态。
运用统计过程控制(SPC)分析数据，识别颗粒异常趋势和根本原因。
关联颗粒结果、维护记录和工艺调整，实现预测性维护和持续工艺优化。
科芯微公司——引领半导体清洗技术革新
了解更多技术详情，请咨询技术顾问：13861996325！
▲技术咨询 ▲关注科芯微微信公众号
Wet Cleaning,Granule,Slot body,Wafer,Chip
Previous Page
Related News
2025/03/05
Technical Support Hotline
E-MAIL:
Technical Support Hotline: 86-13861996325
Address:
4th Floor, Building 5, No. 2 Haiyang South Road, Chengnan Street, Rugao City, Jiangsu Province
Subscribe to us for the latest updates
Mobile Station
WeChat Official Account
Copyright © KOSEN SEMI (JIANGSU) MICROELECTRONICS CO., LTD. All Rights Reserved.